반도체와 태양전지 등 전자소자의 성능을 좌우하는 숨은 결함인 ’전자 트랩’. <br /> <br />기존의 ’전자 트랩’ 분석 기법은 다른 물질과의 접합 구조를 따로 만들거나, 트랩의 특성과 전하 이동의 특성을 각각 따로 측정해야 하는 한계가 있었습니다. <br /> <br />이에 국내 연구진이 반도체 안의 전자 이동 특성과 ’전자 트랩’을 한 번의 측정으로 동시에 분석할 수 있는 기술을 개발했습니다. <br /> <br />기존 ’홀 효과 측정’에 빛과 온도라는 변수를 결합한 ’포토홀 기법’을 한 단계 발전시킨 겁니다. <br /> <br />[김채연 / KAIST 신소재공학과 박사과정생 : 이 전도도-포토홀 전도도의 그래프가 원래는 만약에 결함의 영향이 크게 없다면 일직선을 띄어야 합니다./ 이 휘어짐 현상이 트랩에 의한 현상임을 확인할 수 있었습니다.] <br /> <br />빛을 약하게 비추면 새로 생성된 전자들이 먼저 트랩에 붙잡히고, 빛의 세기를 점점 높이면 트랩이 채워진 뒤 전자들이 자유롭게 이동합니다. <br /> <br />연구팀은 이 과정에서 나타나는 전도도 변화의 휘어짐을 분석해 트랩의 밀도와 에너지 위치를 계산해냈습니다. <br /> <br />그 결과, 기존 기술보다 약 1,000배 더 민감한 수준, 즉 세제곱센티미터당 1조 개 수준의 아주 낮은 트랩 밀도까지 검출하는 데 성공했습니다. <br /> <br />[신병하 / KAIST 신소재공학과 교수 : 태양전지와 같은 아주 고효율의 에너지 소재에서는 아주 적은 수의 트랩도 성능에 큰 영향을 끼칩니다. / 그래서 고효율의 소자를 개발한다면 저희처럼 아주 고민감도의 측정 방법이 필요하게 되는 거죠.] <br /> <br />연구진은 이번 기술로 반도체 성능과 신뢰성을 높이고, 불량 원인을 정확히 파악해 개발 비용과 시간을 크게 줄일 수 있는 새로운 분석 도구로 발전시킬 계획입니다. <br /> <br />YTN 사이언스 권석화입니다. <br /> <br /> <br />영상촬영ㅣ지준성 <br />영상편집ㅣ황유민 <br />디자인ㅣ정하림 <br />자막뉴스ㅣ이 선 최예은 <br /> <br /> <br />※ ’당신의 제보가 뉴스가 됩니다’ <br />[카카오톡] YTN 검색해 채널 추가 <br />[전화] 02-398-8585 <br />[메일] social@ytn.co.kr<br /><br />▶ 기사 원문 : https://www.ytn.co.kr/_ln/0134_202601111048525210<br />▶ 제보 안내 : http://goo.gl/gEvsAL, 모바일앱, social@ytn.co.kr, #2424<br /><br />▣ YTN 데일리모션 채널 구독 : http://goo.gl/oXJWJs<br /><br />[ 한국 뉴스 채널 와이티엔 / Korea News Channel YTN ]
